Nastro conduttivo in carbonio biadesivo a matrice di alluminio da 1 pezzo(40mm Width)

- Progettato specificamente for la microscopia elettronica a scansione (SEM) e la spettroscopia dispersiva a raggi X (EDS), garantendo un'osservazione ottimale del campione.
- Presenta una matrice in alluminio che migliora la conduttività e l'adesione, fornendo immagini chiare e un fissaggio affidabile del campione durante gli esperimenti.
- Riduce significativamente i valori dei raggi X di fondo, migliorando la precisione 'osservazione e minimizzando i limiti for le particelle ad alto ingrandimento.
- Disponibili in varie larghezze (3/5/6/8/10/12/20 mm) e una lunghezza di 20 m, for soddisfare diverse esigenze sperimentali e applicazioni.
- Soluzioni personalizzabili disponibili su richiesta, che consentono applicazioni su misura nei vostri progetti di ricerca o industriali, migliorando la versatilità.